Primele microscoape
electronice cu baleiaj, numite si Scanning Electron Microscope (SEM), au fost
construite in anul 1935, de catre Max Knoll, la putin timp dupa aparitia celor
cu transmisie (TEM). La inceput, intrucat nu erau utilizate lentile condensor
pentru micsorarea dimensiunii laterale a fasciculului de electroni pe proba,
rezolutia SEM era limitata la o valoare in jurul a 100 µm.
Microscoapele
electronice cu baleiaj sunt formate dintr-un tun de electroni si mai multe
lentile electromagnetice si aperturi, oarecum similar cu constructia TEM. Desi
tunul de electroni este identic, tensiunea de accelerare pentru producerea
fasciculului de electroni este cu un ordin de marime mai mic (intre 1 si 40
kV). Totodata, spre deosebire de TEM, fasciculul de electroni este focalizat
astfel incat are un diametru foarte redus la suprafata probei, de ordinul
nanometrilor (1 - 10 nm).
Totodata, lentilele
electromagnetice cu care sunt prevazute aceste microscoape
electronice
dau forma fasciculului si nu contribuie direct la formarea imaginii, asa cum se
intampla in cazul celor cu transmisie.
Pentru a intelege de unde
provine denumirea acestor microscoape electronice, trebuie sa intelegem ce este
baleierea. Conform DEX, aceasta reprezinta "parcurgerea cu un fascicul
electronic a suprafetei ecranului luminiscent al unui tub catodic".
Baleierea fasciculului este obtinuta prin intermediul unui sistem de deflexie
incorporat in lentila obiectiv. Fasciculul baleiaza linie cu linie pe suprafata
probei, astfel incat spotul acopera o arie dreptunghiulara prestabilita.
Cum
functioneaza aceste microscoape electronice?
Electronii care sunt
emisi in urma interactiunii dintre fasciculul incident si materialul probei
sunt colectati de detector si formeaza un curent electric care reprezinta un
semnal util in SEM. Dupa ce este amplificat in prealabil, semnalul este folosit
pentru reconstructia imaginii suprafetei, prin corelarea fiecarui punct de pe
area baleiata cu fiecare punct al imaginii finale, proiectate pe mediul de
afisare.
Practic, in cazul
acestor microscoape electronice, marirea este reprezentata de raportul dintre
dimensiunea liniara a imaginii finale si cea a ariei baleiate pe suprafata
probei. Intrucat aria de baleiere poate varia intr-un interval extrem de mare,
marirea unui SEM poate fi intre 20 X si nu mai putin de 1.000.000 X. In schimb,
rezolutia acestor microscoape depinde de diametrul fasciculului de electroni
care baleiaza suprafata, dar si de volumul de interactiune a fasciculului cu
materialul probei.
Interactiunea dintre
fasciculul de electroni accelerati si material se realizeaza cu ajutorul unor
procese de imprastiere elastica, dar si inelastica. Imprastierea elastica duce
la formarea electronilor retroimprastiati (backscattered electrons), acestia
fiind imprastiati de atomii materialului si pastrand intre 60% si 80% din
energia lor initiala. Pe de alta parte, imprastierea inelastica da nastere unor
electroni secundari (secondary electrons), care au energii joase (< 50 eV).
Compania Ronexprim,
lider inca din 1991 pe piata romaneasca de instrumente de masura si control,
aparatura analitica de laborator si echipamente de cantarire electronica, pune
la dispozitia clientilor sai numeroase modele de microscoape electronice cu
baleiaj. Acestea provin exclusiv de la branduri renumite la nivel
international: QuantaTM, VeriosTM XHR, Aspex Product
Group, QEMSCAN, MLA, Apreo, Teneo, Q250 SEM si Explorer 4 Analyzer.
Niciun comentariu:
Trimiteți un comentariu
Comentariile la acest articol sunt moderate, nu apar imediat pe pagina.